Palestras sobre Metrologia e Óptica contam com a presença de renomado pesquisador internacional

16/09/2014 10:43

SPIE JPGNos dias 17, 23 e 25 de Setembro será realizada o I Ciclo de Palestras de Metrologia Óptica, com a participação do Chefe do Instituto de Óptica Aplicada da Universidade Stuttgart, na Alemanha, o Professor Wolfgang Osten. O Evento organizado pelos membros do grupo SPIE Student Chapter da UFSC é gratuito e contará ainda com outras palestras voltadas ao tema da óptica e da fotônica. O número de vagas é limitado.

As atividades serão realizadas no Auditório da Mecânica e na Sala Laranjeira, no Centro de Cultura e Eventos. O professor Wolfgang Osten realizará uma palestra em cada dia do evento. A primeira é intitulada “Optical Metrology: From Lab to Fab”. A segunda é a “What Optical Metrology Can do for Experimental Stress Analysis and Nondestructive Testing”. E a última será chamada de Remote “Laboratories for Optical Metrology: From the Lab to the Cloud”.

Além dessas, cada dia do evento contará com uma palestra de abertura ministrada por pesquisadores ligados ao Departamento de Engenharia Mecânica. No dia 17 o pesquisador do Laboratório de Metrologia e Automatização (LABMETRO) da UFSC, Daniel Willemann, dará a palestra “Shearography for Non-Destructive Composite Materials”. No dia 23 será proferida a “Stress Measurement By Using Robust Optical Devices”, dada pelo pesquisador do LABMETRO, Matias Viotti. E, por fim, no dia 25 será ministrada a palestra “PEROLA, a Laser Profiling Solution for Pipelines Integrity Inspection”, ministrada pelo pesquisador e doutorando do programa de Pós-graduação em Engenharia Mecânica (POSMEC), João Melo. Entre os intervalos haverão coffee-Breaks. Para se inscrever basta enviar um e-mail para: .

 

Sobre o SPIE Student Chapter UFSC

O Spie Student Chapter é uma organização cujo intuito é reunir grupos de estudantes em diversas Universidades ao redor do mundo para o estudo da ótica e fotônica. Atualmente possui 264 grupos de estudos credenciados em cinco continentes. No caso dos membros do SPIE Universidade Federal de Santa Catarina Chapter, além do estudo, buscam promover atividades para despertar o interesse, tanto da comunidade acadêmica quanto da população, pela área.

 

O que é: I Ciclo de Palestras sobre Metrologia Optica.

Quando: 17, 23 e 25 de setembro.

Onde: No Auditório da Mecânica e na Sala Laranjeira, no Centro de Cultura e Eventos.

Quanto: Gratuito. A inscrição deve ser feita previamente através do e-mail: .

Informações: Através do e-mail: .